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"TestedDevice" –
Reinheit mit Zertifikat


Fraunhofer IPA auf der SEMICON Japan




Dr. Gommel in Japan 2007


Mit seiner Teilnahme an der diesjährigen SEMICON Japan vom 5. bis 7. Dezember beteiligte sich das Fraunhofer IPA erstmals am deutschen Gemeinschaftsstand des Bundesministeriums für Wirtschaft und Technologie sowie des Ausstellungs- und Messe-Ausschusses der Deutschen Wirtschaft e.V. (AUMA). Die SEMICON Japan ist mit mehr als 4.450 Ständen und 1.600 Ausstellern die größte internationale Messe für Anlagen und Materialien im Semiconductor-Bereich. Im Fokus standen die neuesten Produkte, Technologien und Dienstleistungen für die Halbleiterproduktion. 13 deutsche Firmen präsentierten im German Pavilion ihre Highlights „Made in Germany“.

 

Das Fraunhofer IPA, vertreten durch Dr. Udo Gommel, machte insbesondere durch das Zertifizierungssiegel „TestedDevice“ auf die rasant größer werdende Bedeutung der Reinheit in kontaminations-kritischen Produktionen aufmerksam. Kleinste Partikel und gasförmige Verunreinigungen können Produktionsprobleme verursachen und für den Hersteller empfindliche Einbußen bedeuten. Die geeigneten Anlagen, Geräte und Betriebsmittel für die Fertigung auszuwählen ist daher entscheidend. Zahlreiche deutsche Unternehmen fordern von ihren Zulieferern den Nachweis „TestedDevice“ des Fraunhofer IPA, durch den der Einsatz in ihren gewünschten Reinraumklassen zertifiziert wurde. Über 400 Objekte – darunter Produktionsanlagen, Roboter bis hin zu Energieketten und -kabeln, Transporteinheiten, Stühlen und Fußbodenbelägen – wurden bereits am Prüfzentrum in Stuttgart getestet.

 

Auch im asiatischen Raum nimmt die Nachfrage am „TestedDevice“-Nachweis stetig zu. Mehrere in Korea und Japan ansässige Firmen ließen bereits die Reinraumtauglichkeit ihrer Produkte klassifizieren – Tendenz steigend.


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