Die partikuläre Sauberkeit von technischen Oberflächen ist für viele Anwendungen ein Schlüssel zur wirtschaftlichen Fertigung qualitativ hochwertiger Produkte. Bis zur Entwicklung des ParticleGuard Messsystems standen nur indirekt arbeitende Messverfahren zur Prüfung von Oberflächen zur Verfügung. Langwierige und fehlerbehaftete Probenahmeprozeduren oder aufwendige Laboruntersuchungen führten dazu, dass keine oder nur eine sehr lückenhafte Überwachung des Produktumfeldes stattfinden konnte.
Mit der Einführung des ParticleGuard Messsystems ist es erstmals möglich, direkt Oberflächen im Umfeld von kontaminationskritischen Produkten schnell und reproduzierbar zu untersuchen, um gegebenenfalls Reinigungs- oder Prozesssteuerungsmaßnahmen einzuleiten. Basis des Messsystems stellt das am Fraunhofer IPA entwickelte und patentierte Streiflichtverfahren dar. Mit Hilfe des Streiflichtverfahrens wird erreicht, dass auch auf rauhen Oberflächen ein hoher Kontrast zwischen Staub und Untergrund entsteht. Nur hierdurch ist es möglich mit Bildverarbeitungsmethoden schnell eine Vermessung der auf der Oberfläche befindlichen Staubpartikel durchzuführen. Aufgrund der kompakten Bauform des Messsystem steht seiner Integration in bestehende Fertigungsanlagen nichts im Wege.
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